材料物理表征
型号：LTTL-3DS
多功能缺陷荧光光谱仪
搭载双温控样品仓模块，实现 100~600 K 与 RT~773 K 宽温区内的极速、精准线性控温。集成多光源激发与多探测器联动采集系统，可同步记录温度、发光波长与光强的三维信息。全面支持热释光（TL 2D/3D）、光释光（OSL 2D/3D）、余辉衰减光谱（2D/3D）及X射线荧光（XRL）等多种测量模式，深度适配多样化科研与检测场景，为您开启更精准、高效的材料发光与缺陷特性研究。
搭载双温控样品仓模块，实现 100~600 K 与 RT~773 K 宽温区内的极速、精准线性控温。集成多光源激发与多探测器联动采集系统，可同步记录温度、发光波长与光强的三维信息。全面支持热释光（TL 2D/3D）、光释光（OSL 2D/3D）、余辉衰减光谱（2D/3D）及X射线荧光（XRL）等多种测量模式，深度适配多样化科研与检测场景，为您开启更精准、高效的材料发光与缺陷特性研究。
| 控温范围 | RT~773 K |
|---|---|
| 升温速率 | 1~25 K/s |
| 控温精度 | ±0.2 K（稳态） |
| 样品尺寸 | Φ8×1 mm |
| 气氛保护 | 氮气 |
| 共焦设计 | 激发光源、X射线、探测系统共焦，实现原位激发和测量 |
| 控温范围 | 100~600 K |
|---|---|
| 升温速率 | 1~5 K/s |
| 控温精度 | ±0.2 K（稳态） |
| 样品尺寸 | Φ8×1 mm |
| 制冷方式 | 液氮制冷 |
| 真空系统 | 仓内真空度 ≤ 30 Pa |
| 气氛保护 | 氮气 |
| 共焦设计 | 激发光源、X射线、探测系统共焦，实现原位激发和测量 |
| 可选型号 | Vis-IFC、NIR-IFC、Vis-SPC、NIR-SPC、Vis-CCD、NIR-CCD |
|---|---|
| 选配方式 | 按需选配，灵活组合 |
| LED | 270 nm、365 nm、470 nm、850 nm |
|---|---|
| Laser | 405 nm、980 nm |
| X-Ray | 管电压 10~49.9 kV 连续可调 管电流 10~80 μA 连续可调 最大功率 4 W 安全防护 泄漏剂量 < 1 μSv/h |